32 GB/T 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 潤濕稱(chēng)量法可焊性試驗方法
33 GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
34 GB/T 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AD: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗方法
35 GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗方法
36 GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(dòng)(正弦)綜合試驗方法
37 GB/T 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗 L: 砂塵試驗方法
38 GB/T 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗 R: 水試驗方法
39 GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ee: 彈跳試驗方法
40 GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
41 GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 風(fēng)壓試驗方法
42 GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(dòng)(正弦)綜合試驗方法
43 GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 元件、設備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea) 、碰撞 (Eb) 、振動(dòng)(Fc和Fb)和穩態(tài)加速度(Ca)等動(dòng)力學(xué)試驗中的安裝要求和導則
44 GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Eg: 撞擊 彈簧錘
45 GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序
46 GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊 擺錘
47 GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fg: 聲振
48 GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff: 振動(dòng)--時(shí)間歷程法
49 GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fe: 振動(dòng)--正弦拍頻法
50 GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
51 GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ke: 流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗[FS:PAGE]
二、GB2421-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 總則
三、GB/T2422-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語(yǔ)
四、GB2424
1.GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 高溫低溫試驗導則
2.GB/T2424.2-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 濕熱試驗導則
3.GB/T2424.9-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 長(cháng)霉試驗導則
4.GB/T2424.10-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 大氣腐蝕加速試驗的通用導則
5.GB/T2424.11-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 接觸點(diǎn)和鏈接件的二氧化硫試驗導則
