一、GB/T2423 有以下51個(gè)標準組成：
1 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗A: 低溫
2 GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗B: 高溫
3 GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
4 GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Db: 交變濕熱試驗方法
5 GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Ea和導則: 沖擊
6 GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Eb和導則： 碰撞
7 GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ec和導則: 傾跌與翻倒 (主要用于設備型樣品)
8 GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ed: 自由跌落
9 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cb: 設備用恒定濕熱
10 GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Fc和導則: 振動(dòng)(正弦)
11 GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動(dòng)--一般要求
12 GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動(dòng)--高再現性
13 GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動(dòng) 中再現性
14 GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動(dòng) 低再現性
15 GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ga和導則: 穩態(tài)加速度
16 GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗J和導則: 長(cháng)霉
17 GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ka: 鹽霧試驗方法
18 GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗--試驗Kb:鹽霧, 交變(氯化鈉溶液)
19 GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Kc: 接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗方法
20 GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Kd: 接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗方法
21 GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗 M: 低氣壓試驗方法
22 GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化
23 GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封
24 GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Sa: 模擬地面上的太陽(yáng)輻射
25 GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗
26 GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/BM: 高溫／低氣壓綜合[FS:PAGE]試驗
27 GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續綜合試驗方法
28 GB/T 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗T:錫焊試驗方法
29 GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度
30 GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬
